ဇရာစမ်းသပ်ခြင်း သို့မဟုတ် အသက်စမ်းသပ်ခြင်းဟုလည်းသိကြသော ဗို့အားမြင့်ကြွေကာပတ်စီတာများ၏ ယုံကြည်စိတ်ချရမှုစမ်းသပ်ခြင်းသည် လက်တွေ့အသုံးချမှုများတွင် ၎င်း၏တည်ငြိမ်မှုနှင့် ယုံကြည်စိတ်ချရမှုသေချာစေရန် စမ်းသပ်ခြင်းအကြောင်းအရာများစွာကို အကျုံးဝင်ပါသည်။ ၎င်းတို့၏အရေးပါသောပတ်လမ်းအတွင်း HVC ၏ capacitor ကိုအသုံးပြုသော ကမ္ဘာ့ထိပ်တန်းဖောက်သည်များစွာ၏ လုပ်ငန်းစဉ်ကို လိုက်နာခြင်း .

 

စီးရီးခံနိုင်ရည်စမ်းသပ်ခြင်းနှင့် လျှပ်ကာခံနိုင်ရည်စမ်းသပ်ခြင်း- ဤစမ်းသပ်မှုများကို capacitor များ၏ လျှပ်စစ်စွမ်းဆောင်ရည်ကို အကဲဖြတ်ရန် အသုံးပြုသည်။ စီရီယာခံနိုင်ရည်စစ်ဆေးမှုကို ဆားကစ်အတွင်း ၎င်းတို့၏ပုံမှန်လည်ပတ်မှုကိုသေချာစေရန် ကာပတ်စီတာများ၏ညီမျှသောစီးရီးခုခံမှုကိုတိုင်းတာရန်အသုံးပြုသည်။ လျှပ်ကာခံနိုင်ရည်စစ်ဆေးမှုကို ဗို့အားမြင့်ပတ်ဝန်းကျင်များတွင် ယိုစိမ့်မှုမခံစားရစေရန် Capacitors များ၏ insulation စွမ်းဆောင်ရည်ကို အကဲဖြတ်ရန်အတွက် အသုံးပြုပါသည်။

 

Tensile စမ်းသပ်မှု- ဤစမ်းသပ်မှုသည် capacitor leads နှင့် chip soldering ၏ခိုင်မာမှုကိုအကဲဖြတ်ရန်ရည်ရွယ်သည်။ tensile force ကိုအသုံးပြုခြင်းဖြင့် capacitors များ၏ stress အခြေအနေကို ပုံဖော်ခြင်းဖြင့်၊ leads နှင့် chip အကြား ခိုင်မာပြီး ယုံကြည်စိတ်ချရသော ချိတ်ဆက်မှုကို သေချာစေသည်။

 

အပြုသဘောနှင့်အနုတ်လက္ခဏာအပူချိန်ပြောင်းလဲမှုနှုန်းစမ်းသပ်မှု- ဤစမ်းသပ်မှုသည် မတူညီသောအပူချိန်တွင် capacitors များ၏ စွမ်းဆောင်ရည်တည်ငြိမ်မှုကို အကဲဖြတ်ရန် အသုံးပြုသည်။ capacitor ကို အပူချိန် အကွာအဝေး -40°C မှ +60°C အတွင်း ဖြန့်ကျက်ပြီး ၎င်း၏ capacitance တန်ဖိုး၏ ပြောင်းလဲမှုနှုန်းကို တိုင်းတာခြင်းဖြင့်၊ မတူညီသော အပူချိန်ပတ်ဝန်းကျင်ရှိ capacitor ၏ ယုံကြည်စိတ်ချရမှုကို အာမခံပါသည်။

 

အသက်အရွယ်ကြီးရင့်မှုစမ်းသပ်မှု ဤစမ်းသပ်မှုသည် လက်တွေ့လုပ်ငန်းခွင်အခြေအနေများအောက်တွင် ဗို့အားမြင့်ကြွေကာပတ်တာများပေါ်တွင် ကာလရှည်စမ်းသပ်မှုဖြစ်သည်။ ပုံမှန်အားဖြင့်၊ ရေရှည်အသုံးပြုမှုတွင် ၎င်း၏စွမ်းဆောင်ရည်တည်ငြိမ်မှုကို အကဲဖြတ်ရန် capacitor ၏ အမျိုးမျိုးသော parameters များကို လျော့ချရန် ရက်ပေါင်း 30 မှ 60 အထိ ဆက်တိုက်လုပ်ဆောင်သည်။

 

ဗို့အားခံနိုင်ရည်စမ်းသပ်မှု- ဤစမ်းသပ်မှုတွင် capacitor ၏ ယုံကြည်စိတ်ချရမှုအား သေချာစေရန် rated voltage တွင် 24 နာရီ အလုပ်လုပ်သော စမ်းသပ်မှုတစ်ခု ပါဝင်ပါသည်။ ထို့အပြင်၊ ပြိုကွဲသွားသည့်တိုင်အောင် capacitor တွင် ၎င်း၏ သတ်မှတ်ထားသော ဗို့အားထက် ပိုမိုမြင့်မားသော ဗို့အားကို အသုံးချသည့် ပြိုကွဲဗို့အားခံနိုင်ရည်စစ်ဆေးမှုကိုလည်း ပြုလုပ်ပါသည်။ မပြိုကွဲမီ အရေးကြီးသော ဗို့အားသည် ကာပတ်စီတာများ၏ ခံနိုင်ရည်အား အကဲဖြတ်ရန် အသုံးပြုသည့် ပြိုကွဲဗို့အားဖြစ်သည်။

 

တစ်စိတ်တစ်ပိုင်း စွန့်ထုတ်စမ်းသပ်မှု- ဤစမ်းသပ်မှုသည် capacitors ၏ တစ်စိတ်တစ်ပိုင်းထွက်ရှိမှုကို သိရှိရန် အသုံးပြုသည်။ မြင့်မားသောဗို့အားကိုအသုံးပြု၍ တစ်စိတ်တစ်ပိုင်းအထုတ်လွှတ်မှုရှိနေခြင်းကို စောင့်ကြည့်ခြင်းဖြင့်၊ capacitor ၏ insulation စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် တည်ငြိမ်မှုကို အကဲဖြတ်နိုင်ပါသည်။

 

ဘဝစမ်းသပ်ခြင်း- ဤစမ်းသပ်မှုသည် ကြိမ်နှုန်းမြင့်သော တွန်းအားလျှပ်စီးအောက်ရှိ capacitors များပေါ်တွင် လျင်မြန်စွာအားသွင်းခြင်းနှင့် အားသွင်းခြင်းဆိုင်ရာစမ်းသပ်မှုများပြုလုပ်ခြင်းဖြင့် အသက်အရွယ်ကြီးရင့်မှုစမ်းသပ်ခြင်း၏အခြေခံဖြင့် ပြုလုပ်ခြင်းဖြစ်သည်။ အားသွင်းချိန်နှင့် အားသွင်းသည့်အကြိမ်အရေအတွက်ကို မှတ်တမ်းတင်ခြင်းဖြင့်၊ capacitor ၏ အားသွင်းခြင်းနှင့် ထုတ်လွှတ်သည့်သက်တမ်းကို ရရှိနိုင်သည်။ ကာလရှည် အိုမင်းရင့်ရော်မှုကို စမ်းသပ်ပြီးနောက် ဤသက်တမ်း၏ အကဲဖြတ်မှုကို ရရှိကြောင်း သတိပြုသင့်သည်။

 

မြင့်မားသောဗို့အားကြွေထည် ကာပတ်စီတာများပေါ်တွင် ဤယုံကြည်စိတ်ချရမှုစစ်ဆေးမှုများကို ပြုလုပ်ခြင်းဖြင့်၊ လုပ်ငန်းခွင်အသီးသီးတွင် ၎င်းတို့၏ တည်ငြိမ်မှုနှင့် ယုံကြည်စိတ်ချရမှုကို အာမခံနိုင်သောကြောင့် စွမ်းဆောင်ရည်မြင့်မားပြီး တာရှည်ခံနိုင်သော အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများအတွက် လိုအပ်ချက်များကို ဖြည့်ဆည်းပေးပါသည်။ ဤစစ်ဆေးမှုများသည် capacitor ထုတ်လုပ်သူများနှင့် အီလက်ထရွန်နစ်ပစ္စည်းထုတ်လုပ်သူများအတွက် ထုတ်ကုန်ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်ရေးနှင့် အရည်အသွေးထိန်းချုပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်၏ အရေးကြီးသောအစိတ်အပိုင်းတစ်ခုဖြစ်သည်။